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产品描述:
SEM5000X是一款超高分辨率场发射扫描电镜,电子光学镜筒设计优化,综合像差降低了 30%,从而达到了0.6 nm@15 kv和 1.0 nm@1 kv的超高分辨率。超高分辨率和高稳定性,可在先进纳米结构和纳米材料的研究、高端芯片半导体的研发制造等领域发挥其性能优势。
超高分辨率成像,达到了突破性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV
样品台减速和高压隧道技术组合的双减速技术,挑战极限样品拍摄场景
高精度机械优中心样品台、超稳定性的机架减震设计,可搭配整体罩壳设计,极大减弱环境对极限分辨率的影响
支持8寸晶圆(最大直径208 mm)的快速换样仓,满足半导体和科研应用需求
关键参数 | 分辨率 | 0.6 nm @ 15 kV,SE |
1.0 nm @ 1 kV,SE | ||
加速电压 | 20 V ~ 30 kV | |
放大倍率 | 1 ~ 2,500,000 x | |
电子枪类型 | 肖特基场发射电子枪 | |
样品室 | 摄像头 | 双摄像头(光学导航+样品仓内监控) |
样品台行程 | X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm | |
T: -10°~+70°,R: 360° | ||
探测器和扩展 | 标配 | 镜筒内电子探测器(Inlens) |
仓室内电子探测器(ETD) | ||
选配 | 插入式背散射电子探测器(BSED) | |
插入式扫描透射探测器(STEM) | ||
低真空二次电子探测器(LVD) | ||
能谱仪(EDS) | ||
背散射衍射(EBSD) | ||
样品交换仓(4寸和8寸可选) | ||
轨迹球&旋钮板 | ||
双减速技术(Duo-Dec) | ||
软件 | 语言 | 中文 |
操作系统 | Windows | |
导航 | 光学导航、手势快捷导航,轨迹球(选配) | |
图像记录 | TIFF、JPG、PNG、BMP等 | |
自动功能 | 自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散等 |
