TM系列专用能谱仪(EDS) Quantax75

产品描述:
操作简单且直观 *和TM4000Plus搭配应用实例 *探测器内置型 (制造商: 德国Bruker nano GmbH)


产品特点

通过简单操作即可迅速获取彩色X射线面分布

移动到位置,可实时确认其谱图

双屏显示

仅需选择图像和模板,即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同时,实时显示点分析、线分析结果等多种分析。


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超高的性能(hyper map)成就了一次测试即可获取点分析、线分析、面分布结果

点分析

可根据点位置移动实时追踪谱图,轻松确认目标元素。


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实时在线谱峰剥离面分布

分离出常规面分布图像中的谱峰重叠元素,并显示正确结果。


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产品参数

项目

内容

探测器类型

硅漂移探测器

探测器面积

30   mm2

能量分辨率

148   eV (Cu-Kα)
  (Mn-Kα时不高于129 eV)

可检测元素

B5~Cf98




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