]蔡司Sigma 电子显微镜拥有高品质成像和高级显微分析功能的FE-SEM_电子显微镜_分析仪器设备_产品中心

产品描述：
蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验于一体，可轻松实现成像和分析程序，提高工作效率。您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或用于生物和地质样品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低电压，在1 kV或更低电压下获得更佳的分辨率和衬度。它出色的EDS几何学设计可执行显微分析，以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。

产品特点产品参数相关产品

产品特点

Sigma 360

分析测试平台的理想之选，直观的图像采集

从设置到获取基于人工智能的结果，均提供专业向导，为您保驾护航，助您探索直观的成像工作流。
可在1 kV和更低电压下分辨差异，实现更高的分辨率和优化的衬度。
可在极端条件下执行可变压力成像，获得出色的非导体成像结果。

图片说明：聚苯乙烯，使用NanoVP lite模式成像。

直观成像工作流为您指引方向

从设置到获取基于人工智能的结果，每一步都清晰明了

即使您是新手用户，也能轻松获得专业结果。Sigma系列可迅速获取图像，易于学习和使用的工作流程可节省培训时间，简化从导航到后期处理的每个步骤，让您如虎添翼。

蔡司SmartSEM Touch中的软件自动化可助您完成导航、参数设置和图像采集等步骤。

接下来，ZEN core便可大显身手:它配备针对具体任务的工具包，适用于后期处理。我们十分推荐基于机器学习的人工智能工具包，它可助您进行图像分割，将多模式实验与Connect Toolkit相结合，此外，Materials应用程序还能分析微观结构、晶粒尺寸或涂层厚度。

Sigma 560

高通量分析，原位实验自动化

对实体样品进行分析：基于SEM的高速和分析。
实现原位实验自动化：无人值守测试的全集成实验室。
可在低于1 kV的条件下完成要求严苛的样品成像：采集完整的样品信息。

对实体样品进行分析

EDS:通用、高速，助您深入研究

Sigma 560的先进EDS几何学设计可提高分析效率。两个180°径向相对的EDS端口确保了即使在低电压小束流条件下，也能实现高通量无阴影元素分布成像。

样品仓的附加EBSD和WDS端口不局限于满足EDS分析，不导电样品也可以使用全新的NanoVP lite模式进行分析，并能获得更强的信号和更高的衬度。

全新的aBsD4探测器可轻松实现表面形貌复杂样品的图像采集。

产品参数

Gemini 1的光学系统

Gemini 1的光学系统由三个元件组成：物镜、电子束推进器和具有Inlens探测原理的探测器。其中，物镜的设计将静电场与磁场的作用力相结合，大大优化光学性能的同时，降低了样品所处的场影响。如此也可实现对磁性材料等具有挑战性的样品的高品质成像。Inlens探测原理通过对二次电子（SE）和/或背散射电子（BSE）的探测来确保高效的信号检测，同时大幅缩短获取图像的时间。电子束推进器保证了小尺寸的电子束斑和高信噪比。

Gemini光学镜筒截面示意图，包含电子束推进器、Inlens探测器和Gemini物镜。

灵活探测

Sigma配备了一系列不同的探测器，通过新探测技术对您的样品进行表征。使用ETSE和Inlens探测器的高真空模式可获取表面形貌的高分辨率信息。使用VPSE或C2D探测器的可变压力模式可获得清晰图像。使用aSTEM探测器可进行高分辨率透射电子成像。采用不同的可选BSE探测器（如aBSD探测器）可以深入研究样品的成分和表面形貌。

Sigma的Gemini 1光学镜筒与探测器。1 Inlens探测器，SE或Duo。2 ETSE探测器、3 VPSE、4 C2D、5 aSTEM、6/7 高级EDS探测和不同的背散射探测器，如aBSD1。