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产品描述:
SU3900/SU3800 SE系列作为FE-SEM产品,配置超高分辨率与观察能力,而且不像部分SEM产品,受安装样品尺寸与重量的限制,此系列可以通过简单的操作实现数据采集。可用于钢铁等工业材料,汽车、航空航天部件等超大、超重样品的观察。
热场SEM支持低真空,搭载超大样品仓,可扩展实现更多功能
电子显微镜是进行材料形貌评价与分析的重要手段,而且直接观察样品的需求很常见。
SU3900/SU3800SE系列搭载牢固的多用途样品仓,对于非导电性样品,无需进行导电处理(金属镀膜);对于超大超重样品,无需进行切割等破环处理,可以直接安装到样品台,实现样品的多角度观察。

观察肉眼看不到的细节,更高分辨率、极表面观察
此系列搭载新开发的热场电子枪,无论是在高加速电压还是低加速电压区域,均可获得超高分辨率图像。
高端型号(SE Plus)可以满足对样品极表面的观察需求。
标配低电压高灵敏度背散射电子探测器,可切换采集信号获得成分和凹凸信息。
与选配的UVD探测器组合使用,可以获得样品多种类型信息,实现多种模式观察。

自动化、辅助功能让操作更便捷
SU3900/SU3800 SE系列配备自动光学系统调整功能,可大量简化操作流程。
此外,使用选配功能【EM Flow Creator】,可以自动连续获取图像。
将条件设置(如放大倍率,样品台位置等)、调整对焦/对比度等SEM功能转化为可组合的模块,生成一系列观察程序。每个客户都可以创建自己的观察程序。
通过拖拽模块,可以像流程表一样创建程序。通过执行创建的程序,即可实现自动观察。

项目 | SU3900SE/SE Plus | SU3800SE/SE Plus | |
电子光学系统 | 二次电子分辨率 | 0.9 nm@30 kV | |
2.5 nm@1 kV | |||
1.6 nm@1 kV(*1) | |||
放大倍率 | 5~600,000× | ||
电子枪 | ZrO热场发射(肖特基热场发射) | ||
加速电压 | 0.5 kV~30 kV | ||
着陆电压(*1) | 0.1 kV~2 kV | ||
束流 | 150 nA | ||
真空系统 | 低真空模式 | 6~150 Pa | |
探测器 | 标配探测器 | 二次电子探测器(SED) | |
顶探测器(TD) (*2) | |||
5分割背散射电子探测器(BSED) | |||
选配探测器 | 高灵敏度低真空探测器(UVD) | ||
