]蔡司GeminiSEM电子显微镜 FE-SEM满足亚纳米成像、分析和样品灵活性的高要求_电子显微镜_分析仪器设备_产品中心

通用测试仪器

示波器直流电源双向直流电源交流电源直流电子负载交流电子负载数字万用表弱信号/源表分析仪阻抗分析仪/LCR 功率分析仪/功率计函数/任意波形发生器数据采集存储设备电池测试设备

射频测试仪器

频谱分析仪网络分析仪射频/微波信号发生器射频微波功率计无线通信测试仪其它射频测试设备

电磁兼容测试

EMI电磁骚扰测试 EMS电磁抗扰度测试汽车电子EMC测试仪器半导体器件ESD测试系统功率放大器/接收机国军标测试设备

光伏测试设备

模拟光源光电二极管检测发光分析损耗缺陷分析量子效率检测

光电检测设备

光学测量仪照明光源测量汽车光色特性测量医疗器械光学性能测量非视觉测量(红外&紫外）材料光色特性测量显示行业测量

环境仪器设备

半导体测试设备

电器测试仪器

分析仪器设备

蔡司GeminiSEM电子显微镜 FE-SEM满足亚纳米成像、分析和样品灵活性的高要求

产品描述：
蔡司GeminiSEM可助您轻松实现亚纳米级分辨率的成像。出色的成像和分析技术更使FE-SEM（场发射扫描电子显微镜）如虎添翼。我们采用创新的电子光学系统和全新样品仓设计，不仅操作更加简便，用途更加灵活多样，还可为您带来更高的图像质量。无需水浸物镜即可拍摄低于1 kV的亚纳米级图像。

产品特点产品参数相关产品

产品特点

GeminiSEM 360

尽享表面敏感成像的优势并在低电压或高探针电流下实现信息收集。了解Inlens探测器、NanoVP、关联式成像查看或人工智能支持的图像分割优势。

_{图片说明：铈铁合金颗粒，Inlens EsB图像。}

GeminiSEM 460

可从低电流-低电压工作条件无缝切换到高电流-高电压工作条件。通过原位加热和拉伸实验室来拓展您的应用范围。充分发挥其各项优势，如共面式EDS/EBSD配置、EDS数据的无阴影面分布和快速收集4000点/秒的EBSD图。

_{图片说明：钢，EBSD图}

GeminiSEM 560

探索表面成像新标准：Gemini 3镜筒搭载全新的电子光学引擎Smart Autopilot，使样品能够在低于1 kV、分辨率低于1 nm的条件下进行无漏磁成像，且无需样品台偏压或单色器，可在您的工作条件下达到理想效果。

_{图片说明：磁性FeMn纳米颗粒，立方体边长约为25 nm。GeminiSEM 560，1 kV，Inlens SE，观察视野565 nm。}

产品参数

基本原理简介

FE-SEM专为高分辨率成像设计，性能的一个关键是其电子光学镜筒。Gemini是为实现任何样品的出色分辨率而特别设计的（尤其在低加速电压下），可实现完整高效的探测，且操作简单。

微信截图_20250118101514

Gemini电子光学系统有以下三个主要特征：

● Gemini物镜的设计结合了静电场与电磁场，在大幅提升光学性能的同时大大降低了对样品的影响。如此也可实现对磁性材料等具有挑战性的样品的高品质成像。
● Gemini电子束推进器技术是一种集成光束减速器，确保了小尺寸的电子束斑和高信噪比。
● Gemini Inlens的探测设计原理通过同时探测二次电子（SE）和背散射电子（BSE），大幅缩短到图像的时间，确保了高效的信号探测。

火石颗粒，左：Inlens EsB，右：Inlens SE图像。

针对您的应用，可以有以下优势：

✔ SEM电子束对准可长期保持稳定，改变探针电流和加速电压对系统几乎没有影响。
✔ 几乎无磁场泄露的光学系统可实现无失真高分辨率成像。
✔ 使用Inlens SE探测器，可通过真正的表面敏感性SE 1电子技术生成图像，从而只获得样品最顶层的信息。
✔ 使用Inlens EsB探测器的探测设计理念，在非常低的电压下获得真实的材料成分衬度。

钨灯丝扫描电镜 SEM2100

产品系列：国仪量子

台式显微镜 TM4000PlusIII/TM4000III

产品系列：日立（HITACHI）

TESCAN SOLARIS 电子显微镜

产品系列：泰斯肯(TESCAN）