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产品描述:
HEM6000是一款可实现跨尺度大规模样品成像的高速扫描电子显微镜。采用高亮度大束流电子枪、高速电子偏转系统、高压样品台减速、动态光轴、浸没式电磁复合物镜等技术,实现了超快的数据采集和成像速度,同时保证了纳米级分辨率。面向应用场景的自动化操作流程设计,使得大面积的高分辨率图像采集工作更智能。成像速度可达常规场发射扫描电镜的5倍以上。
高速自动化
全自动上下样流程和采图作业,综合成像速度优于常规场发射扫描电镜的 5 倍
大场低畸变
跟随扫描场动态变化的光轴,实现了更低的场边缘畸变
低压高分辨
样品台减速技术,实现低落点电压,同时保证高分辨率

关键参数 | 分辨率 | 1.3nm@3 kV,SE ; 1.5nm@1 kV,SE | |
1.9nm@ 3 kV, BSE; 2.3nm@ 1 kV, BSE | |||
0.9nm@30kV,STEM | |||
加速电压 | 100 V~6 kV(减速模式) | ||
6 kV~30 kV(非减速模式) | |||
放大倍率 | 66~1,000,000x | ||
电子枪类型 | 高亮度肖特基场发射电子枪 | ||
物镜类型 | 浸没式电磁复合物镜 | ||
偏转系统 | 静电偏转器 | ||
样品装载系统 | 真空系统 | 全自动控制,无油真空系统 | |
样品监控 | 样品仓监控水平摄像头; 换样仓监控垂直摄像头 | ||
样品最大尺寸 | 直径4英寸 | ||
样品台 | 类型 | 电机驱动3轴样品台(*可选配压电驱动样品台) | |
行程 | X、Y轴:110mm; Z轴:16mm; | ||
重复定位精度 | X轴:±0.6μm; Y轴:±0.3μm; | ||
换样方式 | 全自动控制 | ||
换样时间 | <15 min | ||
换样仓清洗 | 全自动控制等离子清洗系统 | ||
图像采集与处理 | 驻点时间 | 10 ns/pixel | |
图像采集速度 | 2*100 M pixel/s | ||
图像大小 | 24K*24K | ||
