北京极微测科技有限公司

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B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪

产品描述：
Keysight B1505A 功率器件分析仪是一款能够表征大功率器件（从亚皮安到 10 kV / 1500 A）的一体化解决方案。 B1505A 提供了传统曲线追踪仪的旋钮扫描控制功能以及现代化的图形用户界面。 使用 10 插槽功率器件分析仪和丰富的插入式模块，可以灵活配置这个模块化系统来应对您最复杂的测量需求。

产品特点 产品参数 相关产品

产品特点

B1505A 支持两种标准化测试夹具解决方案（即 N1259A 和 N1265A），这两种方案的区别在于电压和电流范围不同。 两种解决方案均可以适配不同类型的插座。 B1505A 还支持功率器件的片上测试，因此无需事先封装器件。 在实验室中进行器件测试时，这个功能可以显著缩短周转时间（TAT）。

  • 配有直观的 15 英寸触摸屏界面，无需借助外部的个人电脑，即可进行数据分析

  • 一体化器件表征分析仪支持 IV、CV、脉冲/动态 IV 等测量功能，让您尽享分析乐趣

  • 能够捕获其他传统测试仪器无法捕获的超快速瞬态现象

  • 可以在 CV 和 IV 测量之间快速切换，无需重新连接线缆

  • 在广泛的工作条件下更高效地进行测量

  • 能够检测 1 kHz 至 5 MHz 范围内的多频交流电容测量值

  • 自动保存设置信息和测量结果

  • 使用基于 Windows® 的 EasyEXPERT group+ 软件优化数据管理与分析

 

Precision measurement across a wide range of operating conditions

• All-in-one solution for power device characterization up to 1500 A/10 kV

• Medium current measurement with high voltage bias (e.g., 500 mA at 1200 V).

• μΩ resistance measurement capability

• Accurate sub-picoamp level current measurement at high voltage bias

• Fully automated thermal test from -50 to +250 °C

 

Extensive device evaluation capabilities

• Fully automated Capacitance (Ciss, Coss, Crss, etc.) measurement at up to 3000 V of DC bias

• High-power pulsed measurements down to 10 μs

• Gate charge measurement covering Nch MOSFETs and IGBTs both in a package and on a wafer

• High voltage/high current fast switch option to characterize GaN current collapse effect

• Up to 5 high voltage (3 kV) source/measure unit channels for reliability applications

• Perform both hot and cold temperature dependency testing in an interlock-equipped test fixture

• Support SiC MOSFET Vth, BTI-Vth measurements based on the JEDEC standards

 

Improved measurement efficiency

• Switch between high-voltage and high-current measurements without the need to re-cable

• Automated reconfiguration of test circuitry for transistor capacitance measurement (Ciss, Coss, Crss, Cgs, Cgd, Cds, etc.) for both packaged and on-wafer devices

• Standard test fixtures with interlock for safe packaged power device testing

• Supported and secure on-wafer high-power

• The Oscilloscope view allows verification of applied voltage and current waveforms

• MS Windows-based EasyEXPERT group+ software facilitates data management and simplifies data analysis

 

Upgradable and scalable hardware architecture

• A wide selection of measurement modules

• Support for high-power devices with up to 6 pins




产品参数


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