]Keithley 4200A-SCS 参数分析仪_半导体检测设备_半导体测试设备_产品中心

通用测试仪器

示波器直流电源双向直流电源交流电源直流电子负载交流电子负载数字万用表弱信号/源表分析仪阻抗分析仪/LCR 功率分析仪/功率计函数/任意波形发生器数据采集存储设备电池测试设备

射频测试仪器

频谱分析仪网络分析仪射频/微波信号发生器射频微波功率计无线通信测试仪其它射频测试设备

电磁兼容测试

EMI电磁骚扰测试 EMS电磁抗扰度测试汽车电子EMC测试仪器半导体器件ESD测试系统功率放大器/接收机国军标测试设备

光伏测试设备

模拟光源光电二极管检测发光分析损耗缺陷分析量子效率检测

光电检测设备

光学测量仪照明光源测量汽车光色特性测量医疗器械光学性能测量非视觉测量(红外&紫外）材料光色特性测量显示行业测量

环境仪器设备

半导体测试设备

电器测试仪器

分析仪器设备

Keithley 4200A-SCS 参数分析仪

产品描述：
使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。

产品特点产品参数相关产品

产品特点

参数查看，快速清晰。

推进大胆发现从未如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50％，从而实现无与伦比的测量和分析能力。此外，嵌入式测量专业知识提供无与伦比的测试指导，并让您对结果充满信息。

特点

用于 DC IV、CV 和脉冲IV 测量类型的测量硬件
立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改应用程序测试开始测试
自动实时参数提取、数据绘图、分析函数

Analysis function of semiconductor parameter analyzer

准确的 C-V 表征

使用吉时利的电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量一位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到吉时利行业的 CVU 架构中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。

特点

同类产品中一款能够驱动1 V AC 电源电压的 CV 表
1 kHz 频率，分辨率从1 kHz 到 10 MHz
测量电容、电导和导纳
使用 4200A-CVIV 多路开关最多可测量四个通道

4200A SCS Front Femtofarad

测量、切换、重复。

4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

特点

无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
用户可配置低电流功能
个性化输出通道名称
查看实时测试状态

稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块，您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley 可确保您获得准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。

特点

不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
进行飞安测量
多达 9 个 SMU 通道
针对长电缆或大卡盘进行了优化

带分析探测器和低温控制器的集成解决方案

4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。

特点

“点击”测试定序
“手动”探测器模式测试探测器功能
假探测器模式无需移除命令即可实现调试

半導体パラメータアナライザは解析用プローバと温度コントローラをサポート

降低成本并保护您的投资

吉时利保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。只需点击一下或拨打一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。

半導体パラメータアナライザでコスト削減

产品参数

型号	描述
4200A-SCS-PKA 高分辨率 IV 套件	4200A-SCS：参数分析仪主机 4201-SMU：两个用于高容量设置的中功率 SMU 4200-PA：一个预放大器 8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具
4200A-SCS-PKB 高分辨率 IV 和 CV 套件	4200A-SCS：参数分析仪主机 4201-SMU：两个用于高容量设置的中功率 SMU 4200-PA：一个预放大器 4215-CVU：一个高分辨率多频 C-V 单元 8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具
4200A-SCS-PKC 高功率 IV 和 CV 套件	4200A-SCS：参数分析仪主机 4201-SMU：两个用于高容量设置的中功率 SMU 4211-SMU：两个用于高容量设置的高功率 SMU 4200-PA：两个预放大器 4215-CVU：一个高分辨率多频 C-V 单元 8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具
4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件	用于使用尖端硅 CMOS 技术进行的复杂 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 套件包括： 1 个 4225-PMU 超快 I-V 模块 2 个 4225-RPM 远程预放大器/开关模块自动化检定套件 (ACS) 软件超快 BTI 测试项目模块布线