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SPD2200 商用级SPAD单光子雪崩二极管效率整合型测试仪

产品描述：
全光谱光谱响应（SR， Spectral Responsivity）;全光谱量子效率（EQE， External Quantum Efficiency）;全光谱光子探测率（PDP， Photon Detection Probability）;暗计数DCR （Dark Count Rate）;崩溃电压BDV （Break-Down Voltage）。

产品特点产品参数相关产品

产品特点

全光谱性能参数测试分析：

全光谱光谱响应（SR， Spectral Responsivity）
全光谱量子效率（EQE， External Quantum Efficiency）
全光谱光子探测率（PDP， Photon Detection Probability）
暗计数DCR （Dark Count Rate）
崩溃电压BDV （Break-Down Voltage）

SPAD的单光子雪崩二极管特性参数分析：

Jitter
Afterpulsing probability
Diffusion tail
信噪比

SPD2200 集成了先进的光学和电气系统，结合 OptoFire 在传感器测试和分析方面的丰富经验，提供全面且用户友善的软件控制接口和分析功能。透过使用SPD2200，您可以节省系统设置的时间和成本，同时降低测试结果的不确定性。这加速了产品开发周期并提升了竞争力。

SPD2200 是一款新颖的单光子探测器特性分析设备，其优势在于光学和电气系统的直接整合，使其外形紧凑。它可以快速部署在原始制造商的生产线上，软件和硬件之间的协同作用有效地降低了 SPAD 开发过程中的研发成本。此外，它还显著降低了测试结果的不确定性，从而提高了良率。在各家制造商竞相开发用于激光雷达应用的 SPAD 芯片的竞争中，SPD2200 已成为重要的研究仪器。

产品参数

Measurable Parameters
Spectral Performance Test		Analysis of SPAD Single Photon Discrimination Characteristics
Spectral Responsivity(SR)		Timing jitter
External Quantum Efficiency(EQE)		Afterpulsing probability
Photon Detection Probability(PDP)		Diffusion Tail
Dark Count Rate(DCR)		SNR
Break-Down Voltage(BDV)