PD-QE 新型半导体光电二极管测试系统_复制

产品描述:
随着科技的进步,测量的需求比以往任何时候都更加重要。 我们自豪地推出PD-QE,这是一款革命性的光谱测量工具,旨在提升光电探测器效能分析。 PD-QE 手套箱整合系统不仅提供高精度的光谱特性分析,更树立了操作便利性和效率的新标准。 该系统与手套箱无缝整合,为分析敏感材料和组件提供了理想的环境。


产品特点

Enlitech-PD-QE-Features


1.高精度测量:

PD-QE提供高精度的EQE和IV曲线测量,光源不稳定度低于1%,确保测量结果的准确性和一致性,满足客户对高精度测量的期望。


2.集成多功能性: 

PD-QE 集成了多种功能,包括 EQE 测试、IV 曲线检测、D* 分析、NEP 分析和频率噪声频谱分析。 这种整合为客户提供了性能评估解决方案,满足他们对整合多功能性的期望。


3.灵敏度测试:

PD-QE 能够测量高分辨率的光电流(分辨率高达 10^-14 安培),使其适用于测试高灵敏度的光电探测器。 这有助于客户准确评估探测器在低光照条件下的性能,满足他们对灵敏度测试的期望。


4.宽波长范围:

PD-QE 适用于各种光电探测器,无论是在研发阶段还是生产线上,都能提供无与伦比的性能测试能力。


5.优异的光束控制技术:

PD-QE 通过其光束耦合模块提供的光束尺寸控制 (1*1 平方毫米),满足光束控制的要求。 这让客户能够进行性能测试,并模拟特定的应用情境。 这满足了客户对光束控制的需求,帮助他们执行更准确的效能评估和优化。


6.宽广的偏压电压范围:

PD-QE支持从20伏特到200伏特的偏压电压调整,满足客户在不同电压条件下测试光电探测器的需求。 这有助于客户全面评估产品效能,并确保在各种应用条件下稳定运作。


7.易于操作和维护:

PD-QE 采用用户友善的设计,操作简单,维护成本低,满足客户对易用性和维护性的需求。 这有助于客户节省时间和成本,同时保持测试流程。


8.客户支持和技术服务:

PD-QE 提供专业的客户支持和技术服务,协助客户快速解决使用过程中遇到的问题,确保设备稳定运作。 这满足了客户对及时有效支持的需求,帮助他们维持测试流程。


光焱科技Enlitech 的团队拥有丰富的实验室经验和技术知识,能够在线上或现场指导客户进行精密测试。 例如,通过对噪声电流频率图的详细分析,Enlitech 帮助客户识别潜在的测试误差,优化测试参数,从而提升测试的再现性。


Enlitech 深知,在光电领域中,测试对产品开发和质量控制至关重要。 客户在面对如噪声电流频率、量子效率(EQE)、探测度(D*)及噪声等效功率(NEP)等测试时,常常因仪器调校复杂、数据不稳定而感到困惑。 针对这些痛点,Enlitech提供了全面的解决方案。


EQE 和 D* 等指标直接影响光电探测器的灵敏度和性能,这在半导体、通讯及航空航天等高科技领域尤为重要。 准确的测试数据不仅能够帮助客户提升产品质量,还能降低产品开发周期,节省成本。



产品参数


  • 光源不稳定性< 1%

  • 单色光模:波长范围 300~1100 nm。

  • 光斑耦合模组光斑尺寸:1*1mm2 。

  • 偏置电压也可由20V到200V。

  • 可测量高分辨率的光电流,分辨率可达10~14 A。

  • 波长扩充可达1800 nm。

 




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