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产品描述:
此系统测量并分析光电组件(探测器或光伏组件)在光电转换过程中的响应行为。 使用单色(单一波长)光源,经过连续脉冲或周期性光强度调变后,照射到光电元件上以产生光生电流或光生电压信号,并在频域或时域中进行测量和分析。
光强线性度检查与分析
频率响应检查 0~40MHz
可选激光模块系统波长
激光光调变控制
截止频率(Cut Frequency) 计算分析
Rise/ Fall time检查与分析
TPC/TPV 检查与分析
高动态光强变化光学调变模组,可自动调变强度9个光学量级变化
光焱科技Enlitech 的专家团队拥有丰富的实验室经验和技术知识,能够在线上或现场指导客户进行精密测试。 例如,通过对噪声电流频率图的详细分析,Enlitech 帮助客户识别潜在的测试误差,优化测试参数,从而提升测试的再现性。
Enlitech 深知,在光电领域中,测试对产品开发和质量控制至关重要。 客户在面对如噪声电流频率、量子效率(EQE)、探测度(D*)及噪声等效功率(NEP)等测试时,常常因仪器调校复杂、数据不稳定而感到困惑。 针对这些痛点,Enlitech提供了全面的解决方案。
EQE 和 D* 等指标直接影响光电探测器的灵敏度和性能,这在半导体、通讯及航空航天等高科技领域尤为重要。准确的测试数据不仅能够帮助客户提升产品质量,还能降低产品开发周期,节省成本。
Model | Wavelength |
RS-405 | 405 nm |
RS-633 | 633 nm |
RS-520 | 520 nm |
RS-980 | 980 nm |
