LQ-50X-EL 高速/高灵敏电致发光效率测试系统

产品描述:
红外发射的快速衰减 和准确评估 与转换效率的测量关系密切。 光焱科技推出了 LQ-50X,它采用单光子检测技术、近红外增强光学设计和组件,以及紧凑的产品设计,可直接与手套箱整合。


产品特点

特点

  • 采用单光子侦测技术,克服传统光谱仪在低亮度需要长曝光时间(1~3秒)的特征,加快测试速度,以确保测试的准确性。

  • 采用NIR增强光学设计与组件,使其涵盖波长可达到1100 nm,更可扩展到1700 nm。

  • LQ-50X 采用精巧的产品设计,可直接整合至手套箱。 同时,LQ-50X 也适用于各种类型的样品。


LQ-50X 可以快速测试每个电压下的发光光谱,获得多个参数值,例如辐照度、亮度、CIE 坐标等。 测量无机LED测试的不可重复性低于0.2%。

 

实证


LED-Jsc-EQE-IPCE-measurement-LQ-50X

LED-Luminance-Jsc-EL-EQE-IPCE-measurement-LQ-50X

LED-light-emitting-diodes-Jsc-EL-EQE-IPCE-measurement-LQ-50X

LED-light-emitting-diodes-Jsc-EQE-quantum-efficiency-measurement-LQ-50X


 



产品参数


标准分配 :

  • 全向式收光系统 (50 mm 积分球)

  • 增强型多通道光谱仪测试系统

  • 软件

  • 工控机与屏幕

 

可选配置:

  • 红外光谱扩展模块(900 – 1700 nm)

  • 手套箱集成套件




请填写表格信息 请填写以下表格,我们会及时与你联系
您的姓名:*
您的电话:*
您感兴趣的产品:
您的邮箱:
内容:

极微测微信公众号

手机

18201039812