T3AWG3K 系列 - 高性能任意波形发生器

产品描述:
T3AWG3K 系列由六个高清高性能任意波形发生器 (HD AWG) 型号组成,包括 2、4 和 8 个通道,16 位垂直分辨率,12 Vpp 最大输出电压(50Ω 至 50Ω),128 Mpts/ch 内存(可选 1 Gpts /ch),最大采样率为 1.2 GS/s,最大正弦波频率分别为 250 MHz 和 350 MHz。 硬件基准电压偏移能力提供了 ±24 V 或 48V 输出电压窗口(50Ω 至高阻)。


产品特点
  • 提供 250 MHz 和 350 MHz 型号。

  • 2、4 和 8 通道模式。

  • 16 位垂直分辨率。

  • 最大采样率为 1.2 GS/s。

  • 最大正弦波频率分别为 250 MHz 和 350 MHz。


颠覆性和创新架构能够生成或添加 8、16 或 32 通道数字码型(分别在 2,4, 8 或3 模拟通道平台上)并在真任意波形模式或直接数字合成 (DDS) 模式下运行所有型号。 由于其高性能、多功能和出色的易用性,高清 T3AWGXNUMXK 系列是应对当今和未来测试挑战的理想任意波形发生器。

 

AFG Operational Mode

● Improved Direct Digital Synthesis (DDS) based technology

● Fixed sampling clock


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AWG Operational Mode 

● Variable Clock True-Arbitrary Technology 

● Variable Sampling Clock 

● Mixed Signal Generation: 4/8 Analog Channels and 16/32 Digital Channels


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8 Channel High Defi nition Stimulus-Response model:

 Applying an HD Stimulus with the T3AWG generator to the DUT and analysing the Response using an HD Oscilloscope Different measurements scenarios: 

a. Emulation of clean and “perfect signal”, so that uncontrolled and unknown distortions are not influencing the DUT response behavior.

 b. Emulation of “real-world signal” including distortions to test the DUT response behavior before any signal source is available. Playback of signals previously acquired using the oscilloscope and imported into the AWG. 

c. Emulation of extreme signal condition “stress test”, we can emulate diffi cult conditions and corner case signals that can be statistically infrequent to test the DUT response behavior. 

d. Emulation of noise or interference signal “noise and interference immunity”, so we can generate expected interference signal to add to expected signal and test the DUT response behavior.


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产品参数


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