]APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪_光电二极管检测_光伏测试设备_产品中心

通用测试仪器

示波器直流电源双向直流电源交流电源直流电子负载交流电子负载数字万用表弱信号/源表分析仪阻抗分析仪/LCR 功率分析仪/功率计函数/任意波形发生器数据采集存储设备电池测试设备

射频测试仪器

频谱分析仪网络分析仪射频/微波信号发生器射频微波功率计无线通信测试仪其它射频测试设备

电磁兼容测试

EMI电磁骚扰测试 EMS电磁抗扰度测试汽车电子EMC测试仪器半导体器件ESD测试系统功率放大器/接收机国军标测试设备

光伏测试设备

模拟光源光电二极管检测发光分析损耗缺陷分析量子效率检测

光电检测设备

光学测量仪照明光源测量汽车光色特性测量医疗器械光学性能测量非视觉测量(红外&紫外）材料光色特性测量显示行业测量

环境仪器设备

半导体测试设备

电器测试仪器

分析仪器设备

APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪

产品描述：
APD-QE采用光束空间均匀化技术，利用ASTM标准的Irradiance Mode测试方式，与各种先进探针台形成完整的微米级光感测器全光谱量子效率测试解决方案。 APD-QE 已被应用于多种先进光传感器的测试中，例如在 iPhone 激光雷达与其多种光传感器、Apple Watch 血氧光传感器、TFT 影像感测器、有源主动像素传感器（APS）、高灵敏度间接转换 X 射线传感器等。

产品特点产品参数相关产品

产品特点

使用均匀光斑的「照度模式」（Irradiance Mode）符合ASTM E1021
均匀光斑可以克服色散差与像差的问题，可准确测得 EQE 曲线
可搭配多种探针台系统，实现非破坏性的快速测试。
整合光学与测试系统，提高系统搭建效率。
一键式自动化测试软件，自动全光谱校正与检查，工作效率高。
测试特性：

– 外部量子效率 EQE

– 光谱回应 SR

– I-V 曲线检查

– NEP 光谱检查

– D* 光谱检查

– Noise-current-frequency 噪声-电流-频率响应图（A/^Hz-1/2; 0.01Hz~1,000Hz）

– Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析

光焱科技Enlitech 的团队拥有丰富的实验室经验和技术知识，能够在线上或现场指导客户进行精密测试。例如，通过对噪声电流频率图的详细分析，Enlitech 帮助客户识别潜在的测试误差，优化测试参数，从而提升测试的再现性。

Enlitech 深知，在光电领域中，测试对产品开发和质量控制至关重要。客户在面对如噪声电流频率、量子效率（EQE）、探测度（D*）及噪声等效功率（NEP）等测试时，常常因仪器调校复杂、数据不稳定而感到困惑。针对这些痛点，Enlitech提供了全面的解决方案。

EQE 和 D* 等指标直接影响光电探测器的灵敏度和性能，这在半导体、通讯及航空航天等高科技领域尤为重要。准确的测试数据不仅能够帮助客户提升产品质量，还能降低产品开发周期，节省成本。

产品参数

客制化光斑尺寸与光强度

Enlitech-Photodetector-Quantum-Efficiency-System-beam-spot-customized-APD-QE-2

光焱科技APD-QE光感测器量子效率检查系统在光斑直径25mm光束尺寸、工作距离200mm条件下检查，可以达到光强度与光均匀度如下。在波长 530nm 时，光强度可以达到 82.97uW/（cm2）。

Enlitech-Photodetector-Quantum-Efficiency-System-light-intensity-Luminous-intensity-APD-QE-pp3a5n71db9o43jo1mxdou3jrp3tn7d5zre6ftzmja

由 APD-QE（光电探测器量子效率测量系统）测量的典型光强度。照明光束尺寸为直径 25 毫米，工作距离为 200 毫米。

WL (nm)	Full Width at Half Maximum (nm)	Uniformity U%=(M-m)/(M+m)
WL (nm)	Full Width at Half Maximum (nm)	5mm×5mm	3mm×3mm
470	17.65	1.6%	1.0%
530	20.13	1.6%	1.2%
630	19.85	1.6%	0.9%
1000	38.89	1.2%	0.5%
1400	46.05	1.0%	0.5%
1600	37.40	1.4%	0.7%

APD-QE（光电探测器量子效率测量系统）测量的典型空间均匀性。照明光束尺寸为直径 25 毫米，工作距离为 200 毫米。

光焱科技拥有丰富的光学设计经验，可以根据您的需求，量身打造特定光束尺寸和光强度的光源。欢迎与我们联系，专业团队将竭诚为您服务！

特有PEM光子数-光能量调节器定光子数控制功能

APD-QE 光感测器量子效率检查系统具有「定光子数」功能（选配），使用者可以通过控制各个单色光的光子数，让各波长的光子数都一样，并进行测试。这也是光焱科技APD-QE光感测器量子效率检查系统的技术，其他厂家都做不到。

Enlitech-Photodetector-Intensity-adjustable-TFT-Gain-under-constant-photon-APD-QE-pp3aqosyds2s1sz75qeoiix2k9dnz8wtjx7j8usc7q

客户在不同的 constant photon flux 条件下，进行的光谱测试结果。

使用 PEM（光子能量调制器）恒定光子控制功能（CP 控制模式），光子数的变化可以是 < 1%。

Enlitech-APD-QE-PEM-en

以上图为例。灰色的“正常”线是氙灯光源在每个波长下的光强分布，显示了氙灯的光谱特性。如果使用 CP 控制模式，则可以控制不同波长的不同光子数，以保持一致的输出特性。橙色线 ‘CP=15000’ 表示不同波长的光子输出为 15,000 光子/s/um2

样品测试和分析示例

＞a-Si photo-FET样品

在不同的光强度条件下，测试的光谱回应会有所不同。请参阅下面的测试结果

Enlitech-Photodetector-a-Si-photo-FET-device-Spectral-Response-EQE-under-different-light-intensity-APD-QE

＞OPV或钙钛矿PV样品

对于OPV或钙钛矿PV样品，通用模式和CP控制模式的测试结果没有差异。请参阅下面的测试结果。

Enlitech-Photodetector-Perovskite-OPV-Quantum-Efficiency-Spectral-Response-result-APD-QE

APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪

产品系列：光焱（ENLITECH）

PD-QE 新型半导体光电二极管测试系统

产品系列：光焱（ENLITECH）

请填写表格信息 请填写以下表格，我们会及时与你联系

APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪

PD-QE 新型半导体光电二极管测试系统

手机