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射频LCR表 Model 11090-030

产品描述：
Chroma 11090-030射频LCR表为一提供贴片电感及射频滤波器等被动元件高频量测评估解决方案。其高达300MHz的测试频率，对于POL或一般小型DC-DC Converter之电感元件，不仅满足日益增高的标称频率测试外，更可满足需要于超高频检测才能测出之品质异常。此外，同样能满足如EMI-Filter、Ferrite Bead等惯用的100MHz阻抗测试需求。

产品特点产品参数相关产品

产品特点

特点

宽的测试频率：100kHz~300MHz
快速的测试速度：0.5ms/point
多样性的功能

校正/补偿状态指引
提供磁性元件以Rdc为接触检查
多参数比较与分类功能
~401点多点测试与曲线绘图功能
清晰与引导式操作

操作快速的SMD测试治具(专利TW M621845/CN 216013502U)

校正/补偿指引功能

射频LCR测量非常依赖正确的校正(OPEN/SHORT/LOAD)，过程错误或漏掉某一项则很容易造成错误的结果。 11090-030具有向导功能的校正/补偿方法能消除繁琐的校正/补偿程序之错误，让用户具有引导式校正程序，降低漏掉项目的风险、并且有图示指引降低取错标准件的错误，对于已完成校正程序者，测试画面也有对应的显示。

▲ 校正/补偿程序设定

▲ 校正程序设定

▲ 补偿程序设定

提供磁性元件以Rdc为接触检查

射频LCR表对应之SMD元件一般尺寸都很小，在对应测试治具或自动化测试之接触好坏皆很难直观确认。 11090-030提供磁性元件以Rdc为接触检查功能，由于Rdc为一无需校正之参数，而且在磁性元件(电感、EMI Filter、bead)之接触确认最为直接，此功能协助生产线中的测试达到更精准的分拣错误，提高不良品分类的准确性和效率。

多参数比较与分类功能

射频测试在不同频域的良品或不良品判定可能因其参数不同，使用绝对值或百分比不同、注重之主副参数不同、高低判定方式也不同。 Chroma 11090-030提供非常具弹性的表列式，且最多达13 bins，每个bin有四个限制值。频率和测量参数等条件可以在每列中独立设置，使11090-030能够满足多样性的分选需求，包括不同测量频率下的不同参数。