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产品描述:
仪器具有测量速度快、光学分辨率高、测量精度高的特征。仪器采用显微光学系统与成像系统结合的方式,并依据VCSEL的特性优化设计,实现VCSEL的高倍率显微成像辐射分析。通过单次测量得到VCSEL表面二维阵列排布、坏点检测及辐亮度数据,同时得到单点尺寸。配备专用分析软件,可输出符合标准的测试报告。适用于产线及实验室中VCSEL表面特性的快速、分析。
一、方便快捷
采用显微光学系统与成像系统结合,在短短几秒内完成辐亮度分布测量。
二、稳定度高,重复性好
在低辐亮度情况下,仍能保证高重复性和稳定性。

