北京极微测科技有限公司

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用于材料研究的蔡司Axio Observer 用于金相学的倒置显微镜系统

产品描述：
使用蔡司Axio Observer即可快速检测、开发和分析材料，特别是金相样品，让您尽享倒置设计的优势。Axio Observer将高品质蔡司光学元件与自动化组件相结合，提供可靠且可重复的结果。通过专用软件模块，您可以分析非金属夹杂物（NMI）和晶粒尺寸等数据。Axio Observer是适合您的开放式成像平台，您只需购买目前所需的功能。

产品特点 产品参数 相关产品

产品特点

节省金相检测时间

尽享倒置光学设计的优势

  • 利用Axio Observer缩短样品制备和检测时间。

  • 其倒置光学设计便于平行对准物镜，您只需将样品放在载物台上，对焦一次，并为之后的放大和样品保持该对焦状态，便可以更短的时间观察更多的样品。

  • 即使在改变放大倍率或切换冶金样品时，也无需重新对焦。

 

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可靠结果值得信赖

获得出色的图像质量

  • Axio Observer的稳定成像条件将为您带来全新的体验，在高放大倍率下工作时更能提供出色表现。全观察视野下的均匀照明保证了高图像质量。

  • 通过各种蔡司光学元件和自动化组件的组合，每次都能获得可靠且可重复的结果。

  • 利用NMI、Grains、Multiphase等专用软件模块进行金相结构分析，确保快速成像。

 

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升级您的系统

尽享开放式平台带来的优势，只需购买目前所需的功能

  • 根据预算灵活选择。对于Axio Observer，只需购买目前所需的功能。

  • 当需求改变时，您可以随时升级系统。

  • 有编码或电动组件及一系列配件任您选择，您可以放心使用应用所需的所有相关观察方式。

 

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观察方式选择

  • 在明暗场中都能获得均匀且无杂散光的图像背景，大大降低了杂散光干扰和色差。

  • 使用固定分析仪、可360°旋转的测量分析仪及带旋转全波片的旋转分析仪，通过偏光观察方式对样品进行检测。即使没有旋转载物台，也可查看各向异性材料的双反射性及多色性。

  • 充分利用圆微分干涉相差（C-DIC）——一种使用圆偏光的偏光技术。

 

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图片说明：巴克蚀刻铝，反射光，圆偏光观察方式，物镜：EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0.13 HD DIC。



产品参数

应用

 

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