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产品描述:
SICA-2000光谱图像测色分析仪采用远方高光谱测色技术,采用CIE D/8测量几何,可快速获得混色、形状不规则以及小尺寸等材料的光谱图像,并对图像各区域的颜色和光谱进行分析,并可对“无法测量的材料”实现数字化高精度测量,非常适用于纺织品、纺织饰物(纽扣、按钮、拉链等)、建筑材料、航空航天材料、油漆、涂料等各行业。
符合CIE标准D/8测量几何要求,同时具备SCI和SCE测量条件。

采用高性能光源,长期稳定性好,光源寿命更长。
多方位监控以及补偿设计,保证测试结果的重复性更高、稳定性更好。
采用远方高光谱引擎,图像分辨率高,空间测量分辨率更高。
软硬件系统设计提供了极高的光谱测试的准确度以及解析力,保证测试的准确性

